系統(tǒng)概述：

使用 4200A-SCS 加快半導體設備、材料和工藝開發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 業(yè)內(nèi)領先性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和超快脈沖 I-V 測量。

功能特點：

參數(shù)查看，快速清晰

4200A-SCS 參數(shù)分析儀可將檢定和測試設置的復雜程度降低高達 50%，提供清晰且不折不扣的測量和分析功能。 另外，嵌入式測量專業(yè)知識（業(yè)界首創(chuàng)）可提供測試指南并讓您對結果充滿信心。

• ·內(nèi)置測量視頻采用英語、中文、日語和韓語

• ·使用數(shù)百個用戶可修改應用測試開始您的測試

• ·自動實時參數(shù)提取、數(shù)據(jù)繪圖、算數(shù)函數(shù)

  

測量、 切換、 重復

4200A-CVIV 多通道切換模塊自動在 I-V 和 C-V 測量之間切換，無需重新布線或抬起探頭端部。 與競爭產(chǎn)品不同，四通道 4200A-CVIV 顯示器提供本地可視查看，可快速完成測試設置，并在出現(xiàn)意想不到的結果時輕松排除故障。

• ·無需重新布線即可將 C-V 測量移動到任何設備終端

• ·用戶可配置低電流功能

• ·個性化輸出通道名稱

·查看實時測試狀態(tài)

檢定、 自定義、 最大化

• 簡單地說，4200A-SCS 可以完全自定義且全面升級，您可以對半導體設備、新材料、有源/無源組件、晶片級可靠性、故障分析、電化學或幾乎任何類型的樣本執(zhí)行電氣檢定和評估。

• ·NBTI/PBTI 測試

• ·隨機電報噪聲

• ·非易失內(nèi)存設備

• ·穩(wěn)壓器應用測試

  

帶分析探測器和低溫控制器的集成解決方案

4200A-SCS 參數(shù)分析儀支持許多手動和半自動晶片探測器和低溫控制器，包括 Cascade MicroTech、Lucas Labs/Signatone、MicroManipulator、Wentworth Laboratories、LakeShore Model 336 低溫控制器。

• ·“點擊”測試定序

• ·“手動”探測器模式測試探測器功能

• · 假探測器模式無需移除命令即可實現(xiàn)調(diào)試

  

降低成本并保護您的投資

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