設(shè)備優(yōu)勢
1. UPH>9000
2. 檢測精度<3um
3. CT<30ms
4. 過殺率<0.5%
5. 漏檢率0
6. 一鍵換型(替代人工)
應(yīng)用
兼容尺寸:18mm*18mm*6mm—4.2mm*4.2mm*0.9mm
可檢測缺陷:裂紋、碎片、孔洞、異物、粘粉、壓傷、露銅、裁切不良、缺損、劃痕、翼片缺損等80多種缺陷
產(chǎn)品中心
品牌索引
地址: 北京市中關(guān)村門頭溝科技園
5號樓石龍陽光大廈712室
電話: 400-998-6288
傳真: 010-69800335
網(wǎng)址: hzhangjia.cn
半導體測試設(shè)備
位置: 主頁 > 產(chǎn)品中心 > 其他類別產(chǎn)品和附件 > 半導體測試設(shè)備1. UPH>9000
2. 檢測精度<3um
3. CT<30ms
4. 過殺率<0.5%
5. 漏檢率0
6. 一鍵換型(替代人工)
兼容尺寸:18mm*18mm*6mm—4.2mm*4.2mm*0.9mm
可檢測缺陷:裂紋、碎片、孔洞、異物、粘粉、壓傷、露銅、裁切不良、缺損、劃痕、翼片缺損等80多種缺陷
北京總部: 北京市中關(guān)村門頭溝科技園
5號樓石龍陽光大廈712室
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